Билет№15
Билет№15
1. Механическими колебаниями называют движения тела, повторяющиеся точно или приблизительно через одинаковые промежутки времени. Основными характеристиками механических колебаний являются: смещение, амплитуда, частота, период. Смещение — это отклонение от положения равновесия. Амплитуда — модуль максимального отклонения от положения равновесия. Частота — число полных колебаний, совершаемых в единицу времени. Период — время одного полного колебания, т. е. минимальный промежуток времени, через который происходит повторение процесса. Период и частота связаны соотношением: v = 1/T.
Гармоническими называют колебания, при которых какая-либо физическая величина, описывающая процесс, изменяется со временем по закону косинуса или синуса:
Свободными — называют колебания, которые совершаются за счет первоначально сообщенной энергии при последующем отсутствии внешних воздействий на систему, совершающую колебания.
Рассмотрим процесс превращения энергии на примере колебаний груза на нити (см. рис. 9).
При отклонении маятника от положения равновесия он поднимается на высоту h относительно нулевого уровня, следовательно, в точке А маятник обладает потенциальной энергией mgh. При движении к положению равновесия, к точке О, уменьшается высота до нуля, а скорость груза увеличивается, и в точке О вся потенциальная энергия mgh превратится в кинетическую энергию mvг/2. В положении равновесия кинетическая энергия имеет максимальное значение, а потенциальная энергия минимальна. После прохождения положения равновесия происходит превращение кинетической энергии в потенциальную, скорость маятника уменьшается и при максимальном отклонении от положения равновесия становится равной нулю. При колебательном движении всегда происходят периодические превращения его кинетической и потенциальной энергий.
При свободных механических колебаниях неизбежно происходит потеря энергии на преодоление сил сопротивления. Если колебания происходят под действием периодически действующей внешней силы, то такие колебания называют вынужденными. Например, родители раскачивают ребенка на качелях, поршень движется в цилиндре двигателя автомобиля, колеблются нож электробритвы и игла швейной машины. Характер вынужденных колебаний зависит от характера действия внешней силы, от ее величины, направления, частоты действия и не зависит от размеров и свойств колеблющегося тела. Например, фундамент мотора, на котором он закреплен, совершает вынужденные колебания с частотой, определяемой только числом оборотов мотора, и не зависит от размеров фундамента.
2.Полупроводники — это вещества, удельное сопротивление которых убывает с повышением температуры, наличия примесей, изменения освещенности. Типичными полупроводниками являются кристаллы германия и кремния, в которых атомы объединены ковалентной связью.
Акцепторная примесь — это примесь с меньшей валентностью. При добавлении такой примеси в полупроводнике образуется лишнее количество «дырок». Проводимость будет «дырочной», а полупроводник называют полупроводником p-типа. Например, для кремния акцепторной примесью является индий с валентностью n = 3.
р-п контакт полупроводников, подобно вакуумному диоду, обладает односторонней проводимостью: если к р-области подключить «+» источника тока, а к n-области «-» источника тока, то запирающий слой разрушится и р-п контакт будет проводить ток, электроны из области n- пойдут в р-область, а «дырки» из p-области в n-область (рис. 23). В первом случае ток не равен нулю, во втором ток равен нулю. Т. е., если к p-области подключить «-» источника, а к n-области — «+» источника тока, то запирающий слой расширится и тока не будет.
Полупроводниковый диод состоит из контакта двух полупроводников р- и n-типа. Достоинством полупроводникового диода являются малые размеры и масса, длительный срок службы, высокая механическая прочность, высокий коэффициент полезного действия, а недостатком — зависимость их сопротивления от температуры.
Примесная проводимость
Введение примеси в полупроводник сильно влияет на его проводимость. Различают два типа примеси: донорную и акцепторную.
Донорная примесь. Такой примесью могут являться атомы V группы таблицы Менделеева (фосфор, мышьяк, сурьма), имеющие по 5 электронов на внешней оболочке, т.е. на один электрон больше, чем у атомов полупроводника. Атомы примеси, попадая в кристаллическую решетку, замещают один из атомов полупроводника. Такой случай изображен на рис.2. Четыре валентных электрона атома примеси участвуют в ковалентной связи с соседними атомами полупроводника, пятый же валентный электрон атома примеси остается свободным.
Акцепторная примесь.Такой примесью могут являться атомы ш
3
группы таблицы Менделеева (бор, галлий, индий), имеющие по 3 валентных электрона на внешней оболочке, т.е. на один электрон меньше, чем у атомов полупроводника.
Из рисунка видно, что трех валентных электронов атома примеси недостаточно для образования ковалентной связи с четырьмя соседними атомами полупроводника. То есть, введение в полупроводник трехвалентных атомов примеси приводит к возрастанию в нем концентрации дырок. Такие примесные полупроводники называются полупро-водниками pтипа. Основными носителями в них являются дырки, а неосновнымиэлектроны.
Сточки зрения зонной теории полупроводников введение примеси искажает поле решетки, что приводит к возникновению в запрещенной зоне энергетического уровня, называемого примесным. Причем для донорной примеси, вследствие слабой связи избыточного электрона с атомом, этот уровень, называемый донорным, расположен вблизи дна свободной зоны (рис.4а).
Для акцепторной примеси в запрещенной зоне появляется уро-вень, называемый акцеп-торным, который рас-положен вблизи потол-ка валентной зоны (рис. 4б).
P-n переход. Полупроводниковый диод
pn переход можно получить сплавлением материалов с различным типом проводимости или выращиванием его в специальной газовой среде. На рис.5 изображен pn переход. Здесь показаны только примесные атомы, то есть акцепторные атомы слева и донорные атомы справа от перехода.
4
Здесь же показаны дырки и электроны, внесенные примес-ными атомами. Атомы основного материала на этом рисунке не показаны.
Вследствие разности кон-центрации электронов и дырок слева и справа от перехода происходит диффузия электронов из nобласти в pобласть и дырок из pобласти в n-область полупроводника. Из рисунка видно, что примесные атомы вблизи границы перехода лишены дырок и электронов, так как электроны и дырки в результате диффузии пересекли границу перехода и рекомбинировали, то есть свободные электроны заняли места нарушенных валентных связей дырок. В результате образуется слой атомов, не имеющий свободных носителей заряда, называемый обедненным слоем. В обедненном слое существует поле Ек, образованное объемным зарядом: отрицательным в pобласти и положительным в nобласти. Это электрическое поле препятствует дальнейшему движению электронов и дырок через переход, т.е. на пути движения электронов и дырок возникает потенциальный барьер.
На рис.6а показан pnпереход. Заштрихованная область соответствует обедненному (запирающему) слою.
Если на переход подать напряжение, как это показано на рис.6 б, то обедненный слой сузится, так как на внутреннее электрическое поле ЕК наложится поле батареи ЕБ, направленное в противоположную сторону. При этом потенциальный барьер понижается и через pnпереход возможно движение свободных носителей заряда. Такое включение pnперехода называется прямым. При обратном включении, то есть способом указанном на рис. 6в, обедненный слой расширяется, так как внешнее и внутреннее
5
поля складываются. При этом потенциальный барьер повышается и ток через pn переход практически равен нулю. Следует отметить, что незначительный ток через pnпереход существует и в последнем случае. Этот ток обусловлен движением через pnпереход неосновных носителей, т.е. электронов из p в nобласть и дырок из n в робласть. Концентрация неосновных носителей в полупроводнике зависит от температуры, следовательно, и обратный ток через рn переход зависит от температуры.
Устройство, содержащее один рnпереход, называется полупроводниковым диодом. На электрических схемах диод обозначается следующим образом:.
Положительный вывод называется анодом, отрицательный катодом. Для тока I, протекающего через тонкий рnпереход справедливо следующее выражение:
(1)
где q заряд электрона; k постоянная Больцмана; Т абсолютная температура; Io обратный ток насыщения (ток, обусловленный неосновными носителями).
На рис. 7 показана вольт амперная характеристика полупровод-никового диода (масштаб по вертикальной оси для отрицательных значений в 1000 раз больше, чем для положительных).
Уже при сравнительно небольших отрицательных напряжениях обратный ток достигает тока насыщения Io. С увеличением обратного напряжения не происходит увеличения тока, так как число неосновных носителей, которыми он обусловлен, определяется лишь температурой и не зависит от приложенного извне напряжения, если оно не очень велико. Из рис.7 и выражения (1) ясно, что при одном и том же напряжении, приложенном в прямом и обратном направлении, различие в величине тока будет гигантским. Это свойство диодов используется для выпрямления переменного тока.
Экспериментальная установка
Экспериментальная установка состоит из щита со смонтированными на нем элементами выпрямителя и электроннолучевого осциллографа (рис. 8). Из рисунка видно, что в состав выпрямителя входят не только
6
полупроводниковые диоды VD1, VD2, но и конденсаторы С1и С2, а также катушка индуктивности (дроссель) L и сопротивление R. Дело в том, что диоды позволяют из переменного тока получить постоянный по направлению ток, но величина этого тока будет изменяться. Для сглаживания пульсаций в выпрямителях применяются специальные фильтры. В нашем случае это будут конденсаторы и дроссель. Осциллограф, который применяется в данной работе, для наблюдения и измерения зависимости величины напряжения от времени. Исследуемый ток, протекая через сопротивление R, будет создавать на нем падение напряжения, пропорциональное силе тока. Это позволяет воспользоваться осциллографом для изучения характера зависимости силы тока от времени.
Легирование: n- и p-полупроводники — Основы — Технология полупроводников от А до Я
- Deutsch
- Скачать в формате PDF
- Легирование
- n-легирование
- p-легирование
- Электронная зонная структура в легированных полупроводниках
Легирование означает введение примесей в полупроводниковый кристалл с определенной модификацией проводимости. Двумя наиболее важными материалами, которыми можно легировать кремний, являются бор (3 валентных электрона = 3-валентный) и фосфор (5 валентных электронов = 5-валентный). Другими материалами являются алюминий, индий (3-валентный) и мышьяк, сурьма (5-валентный).
Легирующая добавка интегрируется в структуру решетки полупроводникового кристалла, количество внешних электронов определяет тип легирования. Элементы с 3 валентными электронами используются для легирования p-типа, 5-значные элементы для n-легирования. Проводимость преднамеренно загрязненного кристалла кремния может быть увеличена в 10 6 раз.
Пятивалентная примесь имеет на один внешний электрон больше, чем атомы кремния. Четыре внешних электрона соединяются с одним атомом кремния, а пятый электрон свободен в движении и служит носителем заряда. Этот свободный электрон требует гораздо меньше энергии для подъема из валентной зоны в зону проводимости, чем электроны, которые вызывают собственную проводимость кремния. Легирующая примесь, испускающая электрон, известна как донор электронов (donare, лат. = отдавать).
Легирующие примеси заряжены положительно за счет потери отрицательных носителей заряда и встроены в решетку, двигаться могут только отрицательные электроны. Легированные полуметаллы, проводимость которых основана на свободных (отрицательных) электронах, относятся к n-типу или n-легированным. Из-за большего количества свободных электронов они также называются основными носителями заряда, а свободные подвижные дырки называются неосновными носителями заряда.
n-легирование фосфором
Мышьяк используется в качестве альтернативы фосфору, поскольку его коэффициент диффузии ниже. Это означает, что диффузия примеси во время последующих процессов меньше, чем у фосфора, и, таким образом, мышьяк остается в том положении, в котором он был первоначально введен в решетку.
В отличие от свободного электрона из-за легирования фосфором эффект трехвалентной легирующей примеси прямо противоположен. Трехвалентные примеси могут захватывать дополнительный внешний электрон, оставляя дырку в валентной зоне атомов кремния. Поэтому электроны в валентной зоне становятся подвижными. Дырки движутся в направлении, противоположном движению электронов. Энергия, необходимая для подъема электрона на энергетический уровень индия в качестве легирующей примеси, составляет всего 1 % энергии, необходимой для подъема валентного электрона кремния в зону проводимости.
При включении электрона легирующая примесь заряжается отрицательно, такие примеси называются акцепторами (acceptare, лат. = прибавлять). Опять же, примесь закреплена в кристаллической решетке, двигаться могут только положительные заряды. Из-за положительных дырок эти полупроводники называются p-проводящими или p-легированными. По аналогии с n-легированными полупроводниками дырки являются основными носителями заряда, свободные электроны являются неосновными носителями заряда.
р-легирование бором
Легированные полупроводники электрически нейтральны. Термины легированные n- и p-типа относятся только к основным носителям заряда. Каждый положительный или отрицательный носитель заряда принадлежит фиксированной отрицательно или положительно заряженной легирующей примеси.
Полупроводники, легированные N и p, ведут себя примерно одинаково по отношению к протекающему току. С увеличением количества примесей в полупроводниковом кристалле увеличивается число носителей заряда. Здесь требуется только очень небольшое количество легирующих примесей. Слаболегированные кристаллы кремния содержат только 1 примесь на 1 000 000 000 атомов кремния, высоколегированные полупроводники, например, содержат 1 посторонний атом на 1000 атомов кремния.
При введении легирующей примеси с пятью внешними электронами в n-легированных полупроводниках электрон в кристалле не связан и, следовательно, может перемещаться с относительно небольшой энергией в зону проводимости. Таким образом, в n-легированных полупроводниках уровень энергии донора близок к краю зоны проводимости, ширина запрещенной зоны, которую необходимо преодолеть, очень мала.
Аналог, при введении 3-валентной примеси в полупроводник появляется дырка, которая уже при низкой энергии может быть занята электроном из валентной зоны кремния. Для p-легированных полупроводников энергетический уровень акцептора близок к валентной зоне.
Ленточная модель легированных полупроводников
- Далее: p-n переход
Вдыхание
- Атомная структура
- Элементы периодической таблицы
- Химические связи
- Благородные газы
- Проводники – Изоляторы – Полупроводники
- Легирование: n- и p-полупроводники
- p-n переход
- Полевые транзисторы
- Биполярные транзисторы
- Строительство FinFET
9.
4: Полупроводники и легирование – Химия LibreTexts- Последнее обновление
- Сохранить как PDF
- Идентификатор страницы
- 226703
- ОпенСтакс
- ОпенСтакс
Цели обучения
К концу этого раздела вы сможете:
- Описывать изменения в энергетической структуре полупроводника из-за к допингу
- Различают полупроводники n-типа и p-типа
- Опишите эффект Холла и объясните его значение
- Рассчитать заряд, дрейфовую скорость и количество носителей заряда плотность полупроводника с использованием информации об эффекте Холла эксперимент
В предыдущем разделе мы рассмотрели только вклад в электрический ток из-за того, что электроны занимают состояния в зона проводимости. Однако перемещение электрона из валентной зоны в зону проводимости выходит из незанятого состояния или дырка в энергетической структуре валентной зоны, куда может двигаться ближайший электрон. Поскольку эти дыры заполнены другие электроны, создаются новые дырки. Электрический ток связанное с этим заполнением, можно рассматривать как коллективное движение множества отрицательно заряженных электронов или движение положительно заряженные электронные дырки.
Для иллюстрации рассмотрим одномерную решетку на рис. \(\PageIndex{1}\). Предположим, что каждый атом решетки вносит один валентный электрон к току. Так как отверстие справа заполнено, это отверстие перемещается влево. Течение можно интерпретировать как поток положительного заряда влево. Плотность отверстий, или количество отверстий на единицу объема, представлено как р . Каждый электрон, перешедший в зону проводимости оставляет после себя дыру. Если полоса проводимости изначально пуста, плотность электронов проводимости р равен отверстию плотность, т. е. \(n = p\).
Рисунок \(\PageIndex{1}\): Движение отверстий в кристаллическая решетка. Когда электроны смещаются вправо, электронная дырка движется влево.Как уже упоминалось, полупроводник представляет собой материал с заполненным валентная зона, незаполненная зона проводимости и относительно небольшой энергетический зазор между полосами. Избыточные электроны или дырки могут быть вводится в материал путем замещения в кристалле решетки примесного атома, представляющего собой атом слегка другое число валентности. Этот процесс известен как легирование. Для Например, предположим, что мы добавили атом мышьяка в кристалл кремния. (Рисунок \(\PageIndex{2a}\)).
Рисунок \(\PageIndex{2}\): (а) донорная примесь и (б) акцепторная примесь. Введение в примеси и акцепторы в полупроводник существенно изменяет электронную свойства этого материала.У мышьяка пять валентных электронов, тогда как у кремния только четыре. Поэтому этот дополнительный электрон должен перейти в проводимость зоне, так как в валентной зоне нет места. Ион мышьяка оставленный позади имеет чистый положительный заряд, который слабо связывает делокализованный электрон. Связывание слабое, потому что окружающие атомная решетка экранирует электрическое поле иона. В результате энергия связи дополнительного электрона составляет всего около 0,02 эВ. В Другими словами, энергетический уровень примесного электрона находится в ширина запрещенной зоны ниже зоны проводимости на 0,02 эВ, гораздо меньшее значение чем энергия щели 1,14 эВ. При комнатной температуре это примесный электрон легко возбуждается в зону проводимости и поэтому вносит вклад в проводимость (рис. \(\PageIndex{3a}\)). Примесь с дополнительным электроном называется донорная примесь , а легированный полупроводник называется полупроводником типа n , потому что первичные носители заряда (электроны) отрицательны.
Рисунок \(\PageIndex{3}\): Дополнительный электрон из донорная примесь возбуждается в зону проводимости; (б) формирование примесной зоны в полупроводнике n-типа.Добавляя больше донорных примесей, мы можем создать примесная полоса , новая энергетическая полоса, созданная легирование полупроводников, как показано на рисунке \(\PageIndex{3b}\). Уровень Ферми теперь находится между этой зоной и зоной проводимости. В комнатной температуре, многие примесные электроны термически возбуждены в зону проводимости и вносят свой вклад в проводимость. Тогда проводимость может возникать и в примесной зоне, так как вакансии там создаются. Обратите внимание, что изменение энергии электрона соответствуют изменению движения (скорости или кинетической энергии) этих носителей заряда с полупроводником, а не с массой движение самого полупроводника.
Легирование также может быть выполнено с использованием примесных атомов, которые обычно имеют на меньше валентных электронов, чем полупроводниковые атомы. Например, Al, имеющий три валентности. электроны, можно заменить Si, как показано на рисунке \(\PageIndex{2b}\). Такая примесь называется акцепторная примесь , а легированный полупроводник называется p полупроводник типа , потому что первичные носители заряда (дырки) положительны. Если отверстие рассматривается как положительная частица, слабо связанная с примесным узлом, затем в запрещенной зоне чуть выше валентная полоса. Когда это состояние заполняется электроном термически возбуждается из валентной зоны (рис. \(\PageIndex{1a}\)), в валентной зоне создается подвижная дырка. Добавляя больше акцепторных примесей, мы можем создать примесную полосу, как показано на рисунке \(\PageIndex{1b}\).
Рисунок \(\PageIndex{4}\): (а) Электрон из зона проводимости переходит в пустое состояние в результате акцепторная примесь; б) образование примесной полосы в р-типе полупроводник.Электрический ток легированного полупроводника может быть обусловлен движение основного носителя , в котором отверстия вклад примесного атома или из-за меньшинства носитель , в котором отверстия созданы исключительно за счет теплового возбуждения электронов через энергетическую щель. В n Полупроводник типа , основными носителями являются свободные электроны вклад примесных атомов, а неосновные носители свободны электроны, произведенные тепловыми возбуждениями из валентной в зона проводимости. В полупроводнике типа р большинство носителями являются свободные дырки, вносимые примесными атомами, а неосновные носители — это свободные дыры, оставленные заполнением состояний из-за тепловое возбуждение электронов через щель. В целом, число мажоритарных перевозчиков намного превышает количество мажоритарных перевозчиков. будет использоваться понятие мажоритарных и миноритарных перевозчиков. следующий раздел, чтобы объяснить работу диодов и транзисторы.
При изучении легирования p — и n -типа Естественно задаться вопросом: действительно ли «электронные дырки» ведут себя как частицы? существование дырок в легированном полупроводнике типа p продемонстрировано Эффект Холла. Эффект Холла – это возникновение потенциального разница из-за движения проводника через внешнюю магнитное поле. Схема эффекта Холла показана на рисунке. \(\PageIndex{5a}\).
Рисунок \(\PageIndex{5}\): Эффект Холла. (а) Положительно заряженные электронные дырки притягиваются влево однородное магнитное поле, направленное вниз. Электрическое поле генерируется вправо. б) Отрицательно заряженные электроны притягиваются к слева магнитным полем, направленным вверх. Электрическое поле генерируется слева.
Полупроводниковая полоса погружена в однородное магнитное поле (который указывает на бумагу). Когда электронные дырки движутся слева прямо через полупроводник сила Лоренца движет эти заряды к верхнему концу полосы. (Напомним, что движение положительно заряженных носителей определяется Правило правой руки.) Положительный заряд продолжает накапливаться на верхней края полосы до тех пор, пока сила, связанная с движением вниз электрическое поле между верхним и нижним краями полосы (\(F_E = E_q\)) просто уравновешивает направленную вверх магнитную силу (\(F_B = qvB\)). Приравнивая эти силы друг к другу, имеем \(E = ВБ\). Таким образом, напряжение, возникающее на полосе, равно
\[V_H = vBw, \номер \]
где \(V_H\) — напряжение Холла; \(v\) — дырка дрейфовая скорость , или средняя скорость частицы который движется частично случайным образом; Б это напряженность магнитного поля; а w — ширина полосы. Обратите внимание, что напряжение Холла поперечно напряжению, которое первоначально производит ток через материал. Измерение знак этого напряжения (или разности потенциалов) подтверждает набор отверстий на верхней стороне полосы. Величина напряжение Холла дает скорость дрейфа ( v ) большинство перевозчиков.
Дополнительную информацию также можно получить из Холла Напряжение. Обратите внимание, что плотность электронного тока (количество ток на единицу площади поперечного сечения полупроводниковой ленты) равно
\[j = nqv, \label{eq3} \]
, где q — величина заряда, n — количество носителей заряда в единице объема, а v равно скорость дрейфа. Плотность тока легко определяется по формуле делим общий ток на площадь поперечного сечения полоса, q – заряд дырки (величина заряд одного электрона), а u определяется выражением Уравнение \ref{eq3}. Следовательно, приведенное выше выражение для электрона плотность тока дает количество носителей заряда на единицу том, n .