Скупка радиодеталей, б/у приборов на лом в Сургуте. Высокие цены
Сдать радиодетали в Сургуте по высокой цене можно в нашей партнерской сети пунктов приема вторичного сырья. Позвоните нам или закажите звонок. Мы свяжемся с вами, чтоб согласовать оптимальные условия поставки лома радиодеталей и высокую закупочную цену в Сургуте, так как сотрудничаем с десятками ломозаготовителей и производств по всей России, а так же и с другими потребителями вторичного сырья в чьи потребности входит лом радиодеталей. Скупка лома радиодеталей осуществляется через нашу организацию в интересах наших партнеров сети приемных пунктов по рабочим дням и в выходные по согласованию.
Микросхемы
По запросу
Конденсаторы
По запросу
Транзисторы
По запросу
Резисторы
По запросу
Диоды
По запросу
Процессоры
2900 руб/кг
Радиолампы
По запросу
Приборы КИПиА
По запросу
Разъемы
По запросу
Генераторы (измерительные приборы)
По запросу
Осциллографы
По запросу
Частотомеры
По запросу
Вольтметры
По запросу
Радиостанции
По запросу
Переключатели, тумблеры
По запросу
Потенциометры
По запросу
Реле
По запросу
АТС
По запросу
ПТК — переключатель телевизионных каналов
По запросу
Вид радиолома, условия предоставления цены при скупке | Цена, руб/гр |
---|---|
Золото 99% | 4000 |
Серебро 99% | 51 |
Контакты 60% серебра (магнитные) | 32 |
37 | |
Палладий 99% | 4000 |
Палладиевая проволока с реохордов 80% | 3000 |
Платина 99% | 1800 |
Родий 99% | 10000 |
Иридий 99% | 1000 |
Осмий 99% | 900 |
Рутений 99% | 600 |
Как формируется цена на радиолом
Мы принимаем лом драгоценных металлов, в т.
Многие компании принимающие радиодетали оценивают стоимость по маркам. Наша компания оценивает стоимость радиодеталей исходя из содержания в них драгоценных металлов на текущую стоимость по Лондонской бирже в кросс-курсе валюты оплаты на день приема. Мы рассматриваем предложения о поставке исключительно по показателям содержания. Высокая цена на лом радиодеталей в нашей компании.
Часто задаваемые вопросы
Перейти в канал
Главная — Скупка Радиодеталей в Москве
КОМПАНИЯ РАДИОЛОМ МОСКВА
Покупаем дорого!
+7 (925) 573-86-49
Перейти в каталог
НАДЕЖНАЯ КОМПАНИЯ
Более
10 лет
на рынке
работаем
Прочитать о нас
Проф. оценка
Используем приборы для оценки деталей
Высокие цены
Одни из лучших цен в городе
Мгновенные выплаты
Удобным для вас способом
Поддержка 24/7
Ответим на любой вопрос, удобным способом.
СКУПКА РАДИОДЕТАЛЕЙ ПО ВЫСОКОЙ ЦЕНЕ
Компания «Радиолом МСК» производит скупку радиодеталей по максимальным ценам (конденсаторы, микросхемы, рели и др.), радиолома, плат, и других деталей содержащих драгоценные металлы.
Компания «Радиолом МСК» ‒ многолетний лидер рынка в области скупки радиодеталей и радиолома и дальнейшей переработки радиодеталей и других материалов с содержанием драгоценных и редких металлов. За более чем 15 лет работы, мы зарекомендовали себя надежным деловым партнером.
Можете быть уверены в профессиональной экспертной оценке сдаваемых материалов и быстром финансовом расчете удобным для вас способом. Именно репутация, клиентоориентированность, высокое качество обслуживания выгодно отличают нашу компанию. Если вы ищете скупку радиодеталей в Москве с моментальными выплатами и высокими ценами на радиолом, тогда мы ждем вас в нашем офисе.
Категории радиодеталей
Перейти в каталог
КОНДЕНСАТОРЫ
ПОСМОТРЕТЬ
МЕТАЛЛЫ П.
Г.ПОСМОТРЕТЬ
МИКРОСХЕМЫ
ПОСМОТРЕТЬ
ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛИ
ПОСМОТРЕТЬ
ПОТЕНЦИОМЕТРЫ
ПОСМОТРЕТЬ
РАЗЪЕМЫ
ПОСМОТРЕТЬ
РЕЗИСТОРЫ
ПОСМОТРЕТЬ
РЕЛЕ
ПОСМОТРЕТЬ
ТЕХ.СЕРЕБРО
ПОСМОТРЕТЬ
ТАНТАЛ
ПОСМОТРЕТЬ
ТРАНЗИСТОРЫ
ПОСМОТРЕТЬ
ОСТАЛИСЬ ВОПРОСЫ ПО СКУПКЕ РАДИОДЕТАЛЕЙ? ЗВОНИТЕ ИЛИ ПИШИТЕ!
+7 (925) 573-86-49
НАПИСАТЬ НА WHATSAPP
Популярные категории
Обновлено в 9:00#конденсаторы
#микросхемы
#переключатели
#конденсаторы
#микросхемы
#переключатели
Полезные статьи
Радиодетали
Чем так интересны радиодетали для скупщиков?
Для чего скупают радиолом? В настоящее время радиодетали производства СССР пользуются достаточно высоким спросом. Если вы ищете компанию, которая занимается скупкой радиолома на выгодных условиях,
ЧИТАТЬ ДАЛЕЕ »
11.04.2022 Комментариев нет
Радиодетали
Опасно ли разбирать конденсаторы?
Опасно ли разбирать конденсаторы? Переработка отслуживших свой век радиодеталей – довольно прибыльный бизнес. Это выгодно как предприятиям-утилизаторам, так и клиентам, поставляющим им сырьё. Например, цены
ЧИТАТЬ ДАЛЕЕ »
16.03.2022 Комментариев нет
Радиодетали
Что означает термин “техническое серебро”
Что такое техническое серебро Применяемое в промышленности серебро принято называть техническим. Этот термин подразумевает практически чистый драгоценный металл, имеющий высокую 999 пробу. Свинцово-цинковые руды, содержащие
19.01.2022 Комментариев нет
Радиодетали
Что такое тантал, и в каких радиодеталях он содержится?
Что такое тантал, и в каких деталях он содержится Старые радиоприемники, телевизоры, прочие электронные устройства – источник драгоценных и редких металлов. Специальная скупка радиодетали принимает,
ЧИТАТЬ ДАЛЕЕ »
19.01.2022 Комментариев нет
приемочных испытаний электронных компонентов | EEE Parts
Для обеспечения большей надежности в отношении окружающей среды, механической сборки и долговечности устройств.
В рамках системы ESA/SCC (теперь ESCC) приемочные испытания партии (теперь валидационные испытания партии) указаны в таблице V (теперь таблица F3) соответствующей общей спецификации и указывают, какие испытания выполняются, сколько частей требуется для каждой теста и сколько отказов разрешено для каждого из тестов.
В рамках системы MIL QCI/TCI указаны в общей спецификации:
• QCI группы A и B соответствуют Electrical test и LAT 3 испытания
• QCI группа C соответствует Enduranc e подгруппа ( LAT2 и часть LAT1 )
• Группа QCI D соответствует подгруппе Mechanical ( LAT1 )
• Группа E QCI соответствует Радиация испытаний
УСЛУГИ И ВОЗМОЖНОСТИ
ч6
Показать все (23)
входной контроль (1)
Входной контроль (7)
Разрушающий физический анализ (21)
Сортировать по Нет Сортировать по дате Сортировать по названию Сортировать по автору
Испытания на вибрацию Электронные детали
Мария Тереза Родригес
Целью вибрационных испытаний является оценка воздействия вибрации на составные части в определенном диапазоне частот. Образцы…
Прочность присоединения к подложке – Прочность на сдвиг штампа | EEE Parts
José Cándido Vázquez Cárdeno
Целью испытания является определение прочности системы крепления элемента при воздействии силы по оси Y1 и, таким образом, определение…
SEM EDS, Анализ внутренних материалов | EEE Parts
Francisco Javier Aparicio Rebollo
Этот аналитический метод может предоставить как качественную, так и количественную информацию о составе поверхности, т.е. идентифи…
Сканирующий электронный микроскоп SEM – FIB Inspections Сфокусированный ионный пучок | Hi Rel Parts
Francisco Javier Aparicio Rebollo
Этот тип контроля выполняется с помощью электронного микроскопа, который создает изображения образца путем сканирования его сфокусированным электронным лучом…
Сканирующая акустическая микроскопия CSAM | EEE Parts
Media ATN
Сканирующая акустическая микроскопия (SAM) — это проверка, в которой используется сфокусированный звук для исследования, измерения или получения внутреннего изображения объекта. ..
Испытание на устойчивость к растворителям или стойкость маркировки | EEE Parts
Jesús Enrique Barbero Muñoz
Целью этого испытания является проверка того, что маркировка на компонентах не станет неразборчивой при воздействии растворителей (например, во время…
Анализ остаточного газа — детали HI Rel Electronics
Dimas Morilla
Анализ остаточного газа, также известный как анализ внутреннего газа (IGA), представляет собой разрушающее испытание, которое проводится для изучения атмосферы внутри…
Приемный осмотр | EEE Parts
Носители ATN
Приемочная инспекция — это приемо-сдаточная деятельность, направленная на подтверждение того, что полученные компоненты соответствуют требованиям п…
Рентгеновский контроль 3D X Ray – 2D | Hi Rel Electronics Parts
José Cándido Vázquez Cárdeno
Целью радиографического контроля является обнаружение внутренних физических дефектов, которые иначе не видны в электронных компонентах. …
Тест PIND – Обнаружение шума при ударе частиц | EEE Parts
Adrián Cembrano Pérez
Тест PIND (тест на обнаружение шума при ударе частиц) выполняется для обнаружения наличия незакрепленных частиц внутри полости устройства…
Электронные компоненты с большой утечкой пенетрантного красителя | EEE Parts
David Ramirez — Cruzado
Испытание на грубую утечку пенетрантным красителем используется для определения путей утечки внутри герметичных и негерметичных устройств, таких как устройства со стеклянным корпусом или…
Анализ материалов Электронные компоненты EEE
Франсиско Хавьер Апарисио Реболло
Анализ материалов проводится для обнаружения и идентификации материалов, используемых в производстве полупроводников и деталей микроэлектроники и…
Проверка целостности свинца Электронные компоненты | EEE Parts
Jesús Enrique Barbero Muñoz
Испытание на целостность выводов выполняется для определения целостности выводов устройства (клемм), сварных швов и уплотнений. При выполнении данного т…
Внутренний визуальный осмотр электронных компонентов | Детали EEE
David Ramirez — Cruzado
Целью этого разрушающего испытания является демонстрация того, что внутренние материалы, дизайн, конструкция и сборка деталей EEE соответствуют…
Входной контроль электронных компонентов | EEE Parts
Antonio José Rey
Целью входного контроля является выявление потенциально несоответствующих деталей до помещения материала в инвентарь или…
Электронные компоненты Glassivation Integrity | EEE Parts
Francisco Javier Aparicio Rebollo
Этот тест проводится для проверки структурного качества слоя остекления в алюминиевых металлизированных полупроводниковых устройствах или микросхемах.
Микросрезы с помощью сфокусированного ионного пучка (FIB) | HI Rel Parts
Francisco Javier Aparicio Rebollo
Сфокусированный ионный пучок, также известный как ионное измельчение, представляет собой метод, особенно используемый в полупроводниковой промышленности и материаловедении для. ..
Внешний визуальный осмотр электронных компонентов | Детали EEE
David Ramirez — Cruzado
Целью этого процесса является проверка соответствия внешнего вида электрических, электронных и электромеханических компонентов (деталей EEE) внешнему…
Проверка размеров и веса | EEE Parts
Носитель ATN
Целью проверки является выявление: Отклонений производителя Обращения с повреждениями, которые могут повлиять на сборку устройства и его окончательную…
Разрушающий физический анализ DPA | EEE Parts
Lope Rescalvo
Разрушающий физический анализ, dpa, представляет собой систематическое, логическое, подробное исследование деталей EEE на различных этапах физической разборки…
Услуги по тестированию декапсуляции Электронные компоненты | EEE Parts
Francisco Javier Aparicio Rebollo
Декапсуляция упакованных устройств обнажает внутренние элементы тестируемого устройства. Вскрытие устройств этим методом позволяет провести осмотр…
Приемочные испытания электронных компонентов
для электронных компонентов
Требования о том, КОГДА необходимо применять какие-либо приемочные испытания партии, проверочные испытания или квалификационные испытания партии на множество компонентов EEE, изложены в таких документах, как ECSS-Q-ST-60C, ECSS-Q-ST. -60-13C для коммерческих компонентов EEE… и/или на уровне проекта.
Требования о том, ЧТО и КАК делать, включены в такие документы, как Общие спецификации, Методы испытаний MIL-STD, NASA EEE-INST-002, NASA PEM-INST-001…
ALTER TECHNOLOGY имеет накопленный опыт работы с партиями деталей EEE Проверка.
Для обеспечения большей надежности в отношении окружающей среды, механической сборки и долговечности устройств.
В рамках системы ESA/SCC (теперь ESCC) приемочные испытания партии (теперь проверочные испытания партии) указаны в таблице V (теперь таблица F3) соответствующей общей спецификации и указывают, какие испытания выполняются, сколько частей требуется для каждого теста и сколько отказов разрешено для каждого из тестов.
В системе MIL QCI/TCI указаны в общей спецификации:
• QCI Group A и B соответствуют Electrical Test и LAT 3 Тесты
• Группа QCI C соответствует Enduranc E -подгруппа ( LAT2 и часть LAT1 )
• QCI Group D. Механические части подгруппа ( LAT1 )
• QCI группа E соответствует Радиация испытания
ALTER ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ЛАБОРАТОРНЫЕ УСЛУГИ
h6
Методы испытаний электронных компонентов. Вибрационные испытания
Мария Тереза Родригес
2
Целью вибрационных испытаний является оценка воздействия вибрации на составные части в определенном диапазоне частот. Образцы…
Мощность постоянного тока – Использование прочности крепления к подложке – Метод прочности на сдвиг штампа
Хосе Кандидо Васкес Кардено
0
Целью испытания является определение прочности системы крепления элемента при воздействии силы по оси Y1 , и таким образом де…
Определение пути утечки с помощью теста на грубую утечку с помощью пенетранта
David Ramirez — Cruzado
0
Тест на грубую утечку с помощью пенетранта используется для определения путей утечки в герметичных и негерметичных устройствах, таких как устройства со стеклянным корпусом или р …
Что такое SEM EDS как внутренний анализ материалов?
Франциско Хавьер Апарисио Реболло
0
Этот аналитический метод может предоставить как качественную, так и количественную информацию о составе поверхности, т. е.0004
Проведение входного контроля для выявления потенциально несоответствующих деталей
Антонио Хосе Рей
1
Входной контрольЦелью входного контроля является выявление потенциально несоответствующих деталей перед помещением материала в…
Что такое внешний визуальный осмотр?
Дэвид Рамирес — Крузадо
0
Состоит из неразрушающего оптического контроля. Бинокли с увеличением от 1x до 60x и с относительно большим и доступным…
Зачем проводить анализ остаточного газа?
Dimas Morilla
0
Анализ остаточного газа, также известный как анализ внутреннего газа (IGA), представляет собой разрушающий тест, который проводится для изучения атмосферы внутри…
Радиографический контроль 3D X-Ray – 2D
José Cándido Vázquez Cárdeno
0
Целью рентгенографического контроля является обнаружение внутренних физических дефектов, которые иначе не видны в электронных компонентах.
Тест на растяжение связи
Хесус Энрике Барберо Муньос
0
Целью теста на растяжение связи является измерение прочности связи, оценка распределения прочности связи и определение соответствия специ…
Внутренний визуальный осмотр деталей Hi-Rel EEE
David Ramirez — Cruzado
0
Целью этого разрушительного испытания является демонстрация того, что внутренние материалы, дизайн, конструкция и сборка деталей EEE соответствуют требованиям. ..
Сканирующий электронный микроскоп – SEM/FIM – Inspections
Франциско Хавьер Апарисио Реболло
0
SEM инструмент с большим увеличением для анализа дефектов конструкции, конструкции или обращения. Его можно использовать для проверки межблочного мета…
Что такое декапсуляция упакованных устройств?
Франсиско Хавьер Апарисио Реболло
0
Декапсуляция упакованных устройств обнажает внутренние элементы тестируемого устройства.